SIL 驗證

在完成安全儀表系統（Safety Instrumented System, SIS）的基本設計後，
工程師應確保所提議的設計能達到每項安全儀表功能（Safety Instrumented Function, SIF）
所定義的可靠性目標。 在此階段，
通常需計算以下參數：
- 隨機硬體故障機率（PFDavg 或 PFH）
- 結構性限制（硬體設計的冗餘度）
- 誤觸發率（Spurious Trip Rate）.

計算上述參數往往相當複雜，涉及大量輸入變數，
包括硬體故障率資料等。
這些計算通常使用專用軟體執行，例如 xSeriCon 的 SILability™。

憑藉豐富的 SIL 驗證經驗，
xSeriCon 能以合理的成本與高效率為您執行完整的 SIL 驗證，
並在未達目標時提供改善建議。
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